Новая программа качественного и количественного безэталонного и эталонного рентгеноспектрального флуоресцентного анализа с использованием метода фундаментальных параметров и качественного анализа для работы в среде Windows
Программа предоставляет уникальную возможность проводить безэталонный количественный анализ без использования стандартных образцов сравнения. В случае, когда для некоторых (не обязательно всех) элементов продукта имеются стандартные образцы возможно их использование для повышения точности анализа. В программе использованы новые алгоритмы для проведения качественного анализа, быстрого и автоматического определения состава исследуемых образцов.
Качественный анализ
Предоставлены возможности как высокоточного, так и экспрессного (менее чем за 40 сек.) измерения спектров, Высокоточный анализ требует большего времени (10-20 мин.) и выявляет слабые линии. Автоматизирован процесс вычитания спектрального фона.
Производится автоматическая идентификация спектральных линий (все линии K и L серий) с их надписыванием в процессе удобных режимов просмотра спектров. Осуществляется автоматическое определение полного качественного состава образца.
Не обязательны образцы сравнения - стандартные или градуировочные. Все процедуры настройки программы для безэталонного анализа однократно выполняются предприятием-изготовителем с использованием высококачественных образцов и могут быть повторены на Вашем Спектрометре в соответствии с документацией для программы.
Достигается высокая экспрессность анализа, так как необходимо производить измерения только для анализируемого образца.
Нет ограничений по качественному составу образца.
Анализируемый образец может не иметь плоской или полированной поверхности (например, при анализе золотых изделий, стружки, проволоки и т.п.).
Размер и форма образца могут быть как обычными (диски диаметром 20-40 мм), так и реальными (крупицы вещества менее 1 мм, осколки и т.п.).
В зависимости от доступной аналитику априорной информации об анализируемом образце для определения содержания каждого элемента может использоваться индивидуальный образец сравнения (например, государственный стандартный образец в случае, если он имеется), по составу которого нет никаких ограничений. Точность анализа методом фундаментальных параметров с использованием эталона в 2-3 раза лучше, чем точность безэталонного анализа.
Относительно неопределяемых элементов должны быть известны либо их содержания, либо только соотношение между их содержаниями (состав легкой матрицы), например, химическая формула (H3BO3, HCl и т.п.).
Верхняя граница диапазона определяемых содержаний не ограничена (до 100%), нижняя для ряда элементов приведена в таблице 1.
Элемент
Ti
V
Cr
Mn
Co
Ni
Cu
Nb
Mo
W
НПКО,мас. Доли в %
0.03
0.02
0.02
0.1
0.1
0.1
0.1
0.2*)
1*)
0.15
*Примечание. Значения НПКО приведены для Спектрометра с рентгеновской трубкой, имеющей Mo анод. При использовании Ag анода НПКО для Nb и Mo равны 0.1.
Погрешности количественного анализа зависят от содержаний определяемых элементов. Приведены в таблице 2.
Диапазон содержаний от-до,
Массовые доли в %
Средняя погрешность,
массовые доли, %
ОтносительнаяПогрешность, %
0.1 – 1
0.1 - 0.5
20 - 50 **
1 – 5
0.1 - 0.3
3 - 10**
5 – 10
0.5 - 1
1 - 3
> 30
1 - 2
0.5 - 2
**Примечание. В случае наличия сильной мешающей линии другого элемента.
В случае, когда имеются стандартные образцы для анализируемого продукта (хотя бы один) и по ним произведена настройка программы, а так же анализируемая проба имеет гладкую поверхность, точность количественного анализа не уступает стандартному градуировочному анализу.
Проводится автоматический учёт аппаратурного дрейфа Спектрометра.
Измерения аналитических сигналов, фона под ними и последующий расчет содержаний элементов проводятся автоматически в режиме диалога исследователя или оператора с персональной ЭВМ, управляющей Спектрометром.
Возможен режим автоматического измерения и анализа группы однотипных образцов по общей методике без участия оператора.
Области применения программы
- входной контроль качества и сортов продукции на складах, при переработке вторичного сырья на металлургических и других предприятиях;
- определение марок сталей и сплавов;
- анализ образцов, для которых не существуют, труднодоступны или очень дороги эталоны;
- анализ образцов неизвестного состава;
- анализ образцов, которые не могут быть подвергнуты пробоподготовительным операциям с целью создания плоской шлифованной поверхности, необходимой при использовании общепринятых методик РСФА;
- анализ образцов, которые не должны изменить своего вида (вещественные доказательства в криминалистике).
Предоставлены возможности как высокоточного, так и экспрессного (менее чем за 40 сек.) измерения спектров, Высокоточный анализ требует большего времени (10-20 мин.) и выявляет слабые линии. Автоматизирован процесс вычитания спектрального фона.
